銀層測厚儀配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

測厚儀 銀層性能

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：40kg

測厚儀 銀層應用

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

1、XAU儀器小測量面積是多少？

答：0.2毫米，在我們的Thick800A上。是目前世界上運用Si-P半導體探測器，而不裝加毛孔纖維聚焦管可以測到得小面積，提高了分析精度，降低了儀器成本和銷售價格。

2、XAU儀器的測厚范圍？

答：各種材料范圍不同，金屬一般在30微米左右，其中金8微米左右，鋁100微米左右。

3、XAU儀器能測量哪些厚度？

答：儀器從鈉到鈾元素都可探測到，如要測量厚度，還需滿足條件：A、與基材和其它層有能探到的不同元素，也可其它層都有，這一層不含有此元素；B、所關注的元素在當層中含量均勻；C、有可對比的標樣或者數據。